IEC 60748-2-11:1999由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 1999-04,并于 1999-04-19 实施。
IEC 60748-2-11:1999 在中国标准分类中归属于: L55 微电路综合,在国际标准分类中归属于: 31.200 集成电路、微电子学。
本标准有等同采用的 中文版 GB/T 17574.11-2006 半导体器件 集成电路 第2-11部分:数字集成电路 单电源集成电路电可擦可编程只读存储器 空白详细规范
IEC 60748-2-11:1999 半导体器件 集成电路 第2-11部分:数字集成电路 单电集成电路可擦、可编程、只读存储器集成电路空白详细规范的最新版本是哪一版?
最新版本是 IEC 60748-2-11:1999 。
* 在 IEC 60748-2-11:1999 发布之后有更新,请注意新发布标准的变化。
本标准描述了半导体器件 集成电路 第2-11部分:数字集成电路 单电集成电路可擦、可编程、只读存储器集成电路空白详细规范。
| 术语 | 描述 |
|---|---|
| 电可擦除和可编程只读存储器 Electrically Erasable and Programmable Read-Only Memory | 一种半导体存储器,可以通过电信号擦除数据并重新编程。 |
| 单电源 Single Supply | 集成电路仅使用一个电源电压进行供电的架构。 |
| 空白详细规范 Blank Detail Specification | 用于定义特定类型器件详细技术要求的标准化框架文档。 |
| 通用规范 Generic Specification | 适用于一类半导体器件的通用技术要求标准。 |
| 中间规范 Sectional Specification | 介于通用规范和详细规范之间的中间层标准,提供特定类别器件的通用要求。 |
| 极限值 Limiting Values | 器件能够承受而不损坏的最大电压、电流、温度等参数值。 |
| 静态特性 Static Characteristics | 器件在直流工作条件下的电气性能参数,如电压、电流等。 |
| 动态特性 Dynamic Characteristics | 器件在交流或开关工作条件下的电气性能参数,如时间、频率等。 |
| 编程 Programming | 向存储器写入数据的过程。 |
| 擦除 Erasing | 将存储器内容恢复至初始逻辑状态的过程。 |
| 数据保持时间 Data Retention Time | 在不供电的情况下,存储器保持存储数据有效的时间长度。 |
| 读写耐久性 Write/Erase Endurance | 存储器能够承受的编程和擦除循环次数。 |
| 三态输出 Three-state Outputs | 输出端具有高电平、低电平和高阻抗三种状态的输出电路。 |
| 质量评估程序 Quality Assessment Procedures | 用于验证器件是否符合规范要求的测试和评估流程。 |
| 结构相似性程序 Structural Similarity Procedures | 用于评估不同器件之间结构相似性的程序,以简化测试要求。 |

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| 测试机 未指定 | 用于执行电气特性、功能及动态特性测试的自动化美利体育官网首页网址。 |
| 编程器 未指定 | 用于对电可擦除和可编程只读存储器进行编程和擦除操作的美利体育官网首页网址。 |
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