| HPGe探测器 平面或伪平面型,活性面积100 mm?至200 mm?,耗尽深度10 mm至13 mm,能量分辨率≤0.6 keV (FWHM) | 用于测量X射线衰减(K-edge探测器)和X射线荧光强度(XRF探测器)的高纯锗探测器。 |
| X射线管 3 kW,最大额定值160 kV/19 mA,金属陶瓷管,直径≤5 cm | 产生X射线连续谱的源,用于照射样品,能量需达到约150 keV。 |
| 多道美利体育登录入口官网 基于计算机,内存≥16 MB,双独立输入通道 | 用于采集和评估K吸收边和X射线荧光光谱的数字化系统。 |
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