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美利体育登录入口官网:IEC 60747-1:1983
半导体器件 分立器件 第1部分:总则

Semiconductor devices. Discrete devices. Part 1 : General


标准号
IEC 60747-1:1983
发布
1983年
国际标准分类(ICS)
31.200 集成电路、微电子学   
发布单位
国际电工委员会
替代标准
IEC 60747-1:1983/AMD1:1991
当前最新
IEC 60747-1:2010
 
 
适用范围
描述 IEC 出版物 747-2、747-3 等内容的目的、表述和要求，涉及术语、字母符号、基本额定值和特性、一般和参考测量方法、验收和可靠性

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