| 术语 | 描述 |
|---|---|
| 测量延迟时间 measurement delay time | 从测量过程的初始化到开始记录入射辐射之间的时间间隔。 |
| 积分时间 integration time | 记录入射辐射的时间间隔。 |
| 读出时间 read-out time | 积分时间结束后读取测量值所需的时间。 |
| 死时间 dead time | 从读出时间结束后,美利体育登录入口官网器电子学系统需要多长时间才能为另一次单次测量初始化一个新的测量过程。 |
| 测量时间 measurement time | 总时间间隔,即执行单次测量所需的各个时间步骤的总和。 |
| 校准 calibration | 通过使用校准样品确定测量值与含量或质量之间的关系。 |
| 校准函数 calibration function | 测量值与分析物含量或质量的数学依赖关系。 |
| 乘法校正 multiplicative correction | 与分析物含量和干扰元素含量成比例的测量值校正。 |
| 光谱仪 spectrometer | 具有测量光谱辐射量装置的色散或干涉光谱仪。 |
| 顺序光谱仪 sequential spectrometer | 一种光谱仪,其中不同波长的辐射被依次测量。 |
| 同时光谱仪 simultaneous spectrometer | 一种光谱仪,其中不同波长的辐射同时照射到多个分离的光电探测器或单个空间分辨光电探测器上。 |
| 光谱仪配置 spectrometer setup | 光谱仪中光学元件的常用配置。 |
| 帕申-龙格配置 Paschen-Runge mounting | 球面凹光栅的配置,光栅刻线垂直于圆平面,光栅法线通过圆心,光栅位于半径为罗兰圆半径一半的圆周上。 |
| 利特罗配置 Littrow mounting | 平面光栅配置,结构非常紧凑,通过光谱仪中心线进行反射。 |
| 埃伯特配置 Ebert mounting | 平面光栅配置,仅使用一个凹面镜作为输入和输出准直器的成像元件。 |
| 切尔尼 - 特纳配置 Czerny-Turner mounting | 平面光栅配置,类似于埃伯特配置,但输入和输出准直器使用分离的凹面镜。 |
| 埃谢尔配置 Echelle mounting | 平面光栅配置,使用埃谢尔光栅作为色散元件。 |
| 辐射传输 conduction of radiation | 利用透镜、镜子或光纤将辐射从辐射源传输到辐射接收器的过程。 |
| 观察区 observation zone | 火焰或等离子体中被辐射传输用于光谱测量的区域;由观察面积的尺寸和(在横向观察时)其中间点与参考点的距离(观察距离)表征。 |
| 辐射衰减 radiation attenuation | 有目的地降低辐射功率。 |
| 光学快门 optical shutter | 光路中的机械快门,仅在强度测量期间允许光路通向辐射接收器。 |
| 光学辐射导体 optical radiation conductors | 由石英玻璃、玻璃或塑料制成的光纤、棒和带,利用全反射传输辐射。 |
| 辐射导体孔径角 solid angle for radiation conductor | 辐射可以以全反射方式在纤芯和包层之间传输并进入光纤纤芯的入射角。 |
| 入口光学系统 entrance optics | 从辐射源到光谱仪入口狭缝的辐射传输。 |
| 入口窗口 entrance window | 位于辐射源和入口狭缝之间的窗口。 |
| 中间成像系统 intermediate imaging system | 通常由三个透镜或镜子组成的系统,用于产生辐射源的实中间像。 |
| 输出光学系统 exit optics | 从光谱仪出口狭缝到辐射接收器的辐射传输。 |
| 光谱仪规格 spectrometer specifications | 用于表征光谱仪特性的参数。 |
| 光谱分辨本领 spectral resolving power | 波长与可分辨波长间隔之比,或频率与可分辨频率间隔之比。 |
| 光谱分辨率 spectral resolution | 测量的半高宽。 |
| 倒线色散率 reciprocal linear dispersion | 在出口准直器焦平面(或出口狭缝处)波长随长度单位的变化量。 |
| 光谱狭缝宽度 spectral slitwidth | 狭缝几何宽度与狭缝平面处倒线色散率的乘积。 |
| 光电倍增管 | 光电阴极探测器,具有后续的电子倍增级,即多级电极排列,每个电极产生多个二次电子,从而增加总电荷量。 |
| 光谱仪 | 具有测量光谱辐射量装置的色散或干涉光谱仪。 |
| 活性像素传感器 APS | 类似于电荷耦合器件的半导体探测器,每个像素都有自己的读出放大器,允许单独读取电荷而无需通过读出寄存器移位。 |
| 电子倍增电荷耦合器件 EMCCD | 半导体探测器,在读出寄存器和读出放大器之间额外集成了放大级,允许电荷倍增。 |
| 电荷耦合器件 CCD | 半导体探测器,由一个或多个二维排列的像素组成,电荷随时间通过读出寄存器移向读出放大器。 |
光学美利体育登录入口官网仪英文名(AutomaticOpticInspection),简称:AOI,是基于光学原理来对焊接生产中遇到的常见缺陷进行美利体育登录入口官网的美利体育官网首页网址。 AOI 软件中有一个综合性的验证功能,它能减少检查的误报,保证美利体育登录入口官网程序无缺陷。它可以检查储存起来的有缺陷的样品,例如,修理站存放的样品,以及印刷了焊膏...
原子发射光谱是利用物质的特征光谱,每种物质都有自己的代表光谱,每种谱线呈现不同的颜色。原子发射光谱分析过程有三步:激发, 分光和美利体育登录入口官网。第一步 激发指利用激发光源使试样蒸发汽化,离解或分解为原子状态,原子也可以进一步电离成离子状态,原子及离子在光源中激发发光。第二步 分光,利用光谱仪器把光源发射的光...
1、原理 用适当的方法(电弧或者火花等)提供能量,使样品 蒸发、 汽化并激发发光,所发的光经棱镜或衍射光栅构成的 分光器分光,得到按波长序列排列的原子 光谱。测定原子光谱线的波长及强度,确定元素的种类及其浓度的方法称为原子发射光谱分析(AES)。 2、用途 AES法能够用微量的试样同时进行...
火焰原子化器是应用最广泛的原子化器,但它最大的缺点是原子化效率不高,原子蒸气停留时间短,因而火焰中的自由原子浓度很低。原因是雾化效率低,待测物受到大量气体的稀释,以及金属原子在火焰中易受氧化作用生成热稳定的难熔氧化物。另一个存在的问题是火焰中的化学反应不易控制,造成火焰温度不稳定,火焰各部分的温度...
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