| 术语 | 描述 |
|---|---|
| 关键控制特性 key control characteristic | 可能影响最终产品安全、法规符合性、配合、功能、性能、质量、可靠性或后续加工的产品特性。注 1:关键控制特性的测量在标准化的测量程序中进行,具有已知的准确度和精密度。注 2:如果结果的相关性已明确定义并已知,可以为关键控制特性定义多种测量方法。 |
| 空白详细规格 blank detail specification | 一种结构化的通用规格,提供描述特定纳米产品所需的关键控制特性集合,但不分配具体数值或属性。注 1:纳米产品的示例包括纳米材料、纳米复合材料和纳米子组件。注 2:空白详细规格旨在供工业用户准备用于双边采购合同的详细规格。空白详细规格有助于比较和基准测试不同材料。此外,标准化格式使采购更高效且更具容错性。 |
| 手性 chirality | 用于描述单壁碳纳米管(SWCNT)结构的向量表示法。注 1:SWCNT 可视为从单层原子厚度的石墨烯片卷曲而成的圆柱体,卷曲方向由手性向量 C = na1 + ma2 表示。 |
| 手性指数 chiral indices | 定义单壁碳纳米管(SWCNT)手性向量的两个整数(n, m)。注 1:参见附录 A 关于手性向量的图形表示。 |
| SWCNT 直径 SWCNT diameter | 单壁碳纳米管的直径,由手性指数(n, m)唯一确定。注 1:参见附录 A 关于手性向量的图形表示。 |
| 拉曼光谱仪 Raman | 用于快速确认单壁碳纳米管的存在、定性估计无定形碳含量、确定管径及半导体/金属管比例的仪器。 |
| 粘度计 Viscometer | 用于测量分散液粘度的仪器。 |
| 粘度计 Viscometer | 用于测量分散液粘度的仪器。 |
| 四探针测试仪 4-point probe | 用于测量体积电阻率和薄膜面电阻的仪器。 |
| pH 计 pH meter | 用于测量分散液 pH 值的仪器。 |
| 光致发光激发光谱仪 Photoluminescence excitation mapping | 用于识别 SWCNT 分散液中存在的特定手性的仪器,仅探测半导体管。 |
| 动态光散射仪 DLS | 用于直接测量 SWCNT 分散液中的直径和长度的仪器。 |
| 原子力显微镜 AFM | 用于测量 SWCNT 直径和长度的仪器。 |
| 扫描电子显微镜 SEM | 用于观察纳米管质量、长度及表面纹理的仪器。 |
| 比表面积美利体育登录入口官网 BET | 用于测量比表面积的仪器。 |
| 热重美利体育登录入口官网 TGA | 用于定量测定粉末样品中碳和非碳材料的含量,以及纳米管均匀性和热稳定性的仪器。 |
| 电感耦合等离子体质谱仪 ICP-MS | 用于测量金属杂质含量的仪器。 |
| 紫外 - 可见 - 近红外光谱仪 | 用于测量 SWCNT 直径的仪器,对应测量协议 ISO/TS 10868。 |
| 透射电子显微镜 TEM | 用于监测单根纳米管表面纹理、识别金属和非管状碳杂质、确认单壁碳纳米管存在及识别多壁碳纳米管杂质的仪器。 |
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