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硬质合金 - 微观组织的金相测定 - 第2部分:Wc晶粒尺寸的测量

Hardmetals — Metallographic determination of microstructure — Part 2: Measurement of WC grain size


标准号
ISO 4499-2:2020
发布
2020年
国际标准分类(ICS)
77.160 粉末冶金   
总页数
22页
发布单位
国际标准化组织
当前最新
ISO 4499-2:2020
 
 
引用标准
ISO 3369 ISO 3738-1 ISO 3738-2 ISO 4489:2019 ISO 6507-1 ISO 6507-2 ISO 6507-3 ISO 6507-4
适用范围
本文件提供了仅使用光学或电子显微镜通过金相技术测量硬质合金晶粒尺寸的指南。 它适用于主要含有碳化钨 (WC1))作为硬质相的 WC/Co 硬质合金(也称为硬质合金或金属陶瓷)。 它还用于通过线性截距技术测量晶粒尺寸和分布。 本文件主要涵盖四个主要主题:  ——显微镜校准,以支持测量的准确性;  ——线性分析技术,以获得足够的统计上有意义的数据;  ——分析方法,计算代表性平均值;  ——报告,以符合现代质量要求。 本文件由测量案例研究支持,以说明推荐的技术(见附件 A)。 本文件不适用于以下用途:  ——尺寸分布的测量;  ——关于形状测量的建议。 在给出形状测量建议之前还需要进一步研究。 矫顽力的测量有时用于晶粒尺寸测量,然而,本文件仅涉及金相测量方法。 它也是为硬质合金而编写的,而不是为表征粉末而编写的。 然而,该方法原则上可用于测量适当安装和切片的粉末的平均尺寸。
术语描述
纳米级
nano
指碳化钨颗粒尺寸小于0.2 ?m的情况,通过均值线性截距法测量。
超细级
ultrafine
指碳化钨颗粒尺寸在0.2 ?m到0.5 ?m之间的情况,通过均值线性截距法测量。
亚微米级
submicron
指碳化钨颗粒尺寸在0.5 ?m到0.8 ?m之间的情况,通过均值线性截距法测量。
细晶级
fine
指碳化钨颗粒尺寸在0.8 ?m到1.3 ?m之间的情况,通过均值线性截距法测量。
中等粒度级
medium
指碳化钨颗粒尺寸在1.3 ?m到2.5 ?m之间的情况,通过均值线性截距法测量。
粗晶级
coarse
指碳化钨颗粒尺寸在2.5 ?m到6.0 ?m之间的情况,通过均值线性截距法测量。
特粗级
extra coarse
指碳化钨颗粒尺寸大于6.0 ?m的情况,通过均值线性截距法测量。

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场发射扫描电子显微镜(FESEM)
高级版本的SEM,具有更高的分辨率和成像质量。
扫描电子显微镜(SEM)
用于高分辨率显微结构分析的仪器。
透射电子显微镜(TEM)
用于观察材料内部结构的薄片样品的仪器。

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