| 术语 | 描述 |
|---|---|
| 纳米级 nano | 指碳化钨颗粒尺寸小于0.2 ?m的情况,通过均值线性截距法测量。 |
| 超细级 ultrafine | 指碳化钨颗粒尺寸在0.2 ?m到0.5 ?m之间的情况,通过均值线性截距法测量。 |
| 亚微米级 submicron | 指碳化钨颗粒尺寸在0.5 ?m到0.8 ?m之间的情况,通过均值线性截距法测量。 |
| 细晶级 fine | 指碳化钨颗粒尺寸在0.8 ?m到1.3 ?m之间的情况,通过均值线性截距法测量。 |
| 中等粒度级 medium | 指碳化钨颗粒尺寸在1.3 ?m到2.5 ?m之间的情况,通过均值线性截距法测量。 |
| 粗晶级 coarse | 指碳化钨颗粒尺寸在2.5 ?m到6.0 ?m之间的情况,通过均值线性截距法测量。 |
| 特粗级 extra coarse | 指碳化钨颗粒尺寸大于6.0 ?m的情况,通过均值线性截距法测量。 |
| 场发射扫描电子显微镜(FESEM) | 高级版本的SEM,具有更高的分辨率和成像质量。 |
| 扫描电子显微镜(SEM) | 用于高分辨率显微结构分析的仪器。 |
| 透射电子显微镜(TEM) | 用于观察材料内部结构的薄片样品的仪器。 |
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