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美利体育登录入口官网:IEC 60747-16-4:2017
半导体器件 第 16-4 部分:微波集成电路 开关(1.2 版;合并重。

Semiconductor devices – Part 16-4: Microwave integrated circuits – Switches (Edition 1.2; Consolidated Reprint)


标准号
IEC 60747-16-4:2017
发布
2017年
总页数
118页
发布单位
国际电工委员会
当前最新
IEC 60747-16-4:2017
 
 
引用标准
IEC 60617 IEC 60617-12 IEC 60617-13 IEC 60747-16-1:2001 IEC 60747-16-1:2001/AMD1:2007 IEC 60747-16-1:2001/AMD2:2017 IEC 60747-1:2006 IEC 60747-1:2006/AMD1:2010 IEC 60747-4 IEC 60748-2 IEC 60748-3 IEC 60748-4 IEC 61340-5-1:2007
 
 
本体
隔离度
适用范围
IEC 60747 的这一部分提供了新的测量方法@术语和字母符号@以及集成电路微波开关的基本额定值和特性。开关@中的射频端口有多种组合,如SPST(单刀单掷)@ SPDT(单刀双掷)@ SP3T(单刀三掷)@ DPDT(双刀双掷)@等。本标准中的开关基于 SPDT。然而,本标准适用于其他类型的开关。
术语描述
插入损耗
insertion loss
开关导通端口的输出功率与输入功率之比,在线性功率传输曲线区域
隔离度
isolation
开关关断端口的输出功率与输入功率之比,在线性功率传输曲线区域
回波损耗
return loss
指定端口的入射功率与反射功率之比,在线性功率传输曲线区域
1 dB压缩点的输入功率
input power at 1 dB compression
插入损耗比线性区域增加1 dB时的输入功率
1 dB压缩点的输出功率
output power at 1 dB compression
插入损耗比线性区域增加1 dB时的输出功率

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