| 术语 | 描述 |
|---|---|
| 薄片 thin section | 一种在载玻片上固定的岩石样品,被研磨成厚度约为0.030±0.005毫米的薄片,通常覆盖盖玻片,用于光学显微镜观察。 |
| 模态分析 modal analysis | 确定天然石材中定量矿物成分的最准确方法,通过分配特定体积百分比(vol.%)给每个矿物相,通常采用点计数法进行。 |
| 点计数 point counting | 一种在显微镜下对薄片进行网格化观察,统计每个网格点所代表的矿物,从而计算矿物体积百分比的定量分析方法。 |
| 基体 matrix | 在沉积岩中,指包含颗粒或填充空隙的微晶、碳酸盐或硅质胶结物;与胶结物(cement)相区别。 |
| 胶结物 cement | 指无定形至晶质的物质,部分或完全填充岩石中的孔隙。 |
| 斜长石染色 plagioclase staining | 一种选择性染色技术,使用氟化氢、胭脂红(Na-ammonium salt)等试剂将斜长石染成红色,以利于与其他长石区分。 |
| 钾长石染色 K-feldspar staining | 一种选择性染色技术,使用钴亚硝酸钠试剂将钾长石染成黄色,以利于识别。 |
| 碳酸盐染色 carbonate staining | 一种使用盐酸和alizarin红染料区分方解石(染成深红色)和白云石(无色)等碳酸盐矿物的方法。 |
| 微晶 microcrystalline | 指基质或胶结物中晶体极其细小的状态,通常在显微镜下难以分辨单个晶体。 |
| 斑状结构 porphyritic texture | 一种岩石结构,其中较大的晶体(斑晶)分布在较细的基质或玻璃质背景中。 |
| 光学透射偏光显微镜 标准光学透射偏光显微镜 | 用于进行薄片显微观察,确定矿物光学性质、结构构造及进行模态分析的主要美利体育官网首页网址。 |
| 带冷却水和闭合边的岩石锯 带有滑动导向的水冷岩石锯 | 用于将岩石样品切割成适合制备薄片的块状试样。 |
| 点计数器和图像分析系统 手动点计数器或自动图像分析系统(如Adobe Photoshop Quantification) | 用于对薄片进行网格化观察并统计各矿物相的体积百分比,或用于自动模态分析。 |
| 自动或手动研磨机 带铸铁研磨头的研磨机 | 用于将岩石块研磨至所需厚度,制作薄片或抛光片。 |
| 超声波清洗槽 标准实验室超声波清洗槽 | 用于在制备薄片后清洗去除残留的磨料颗粒。 |
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