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美利体育登录入口官网:DIN 51001 Beiblatt 1:2010-05
氧化原料和基本材料的测试 - X 射线荧光法 (XRF) 的一般工作基础 - 用于确定 XRF 测试样品的材料组崩解方法的一般调查

Testing of oxidic raw materials and basic materials - General bases of work for X-Ray fluorescence method (XRF) - General survey on disintegration methods referred to groups of materials for the determination of test specimens for XRF

美利体育登录入口官网: DIN 51001 Beiblatt 1:2010-05 发布历史

DIN 51001 Beiblatt 1:2010-05由德国标准化学会 DE-DIN 发布于 2010-05。

DIN 51001 Beiblatt 1:2010-05 氧化原料和基本材料的测试 - X 射线荧光法 (XRF) 的一般工作基础 - 用于确定 XRF 测试样品的材料组崩解方法的一般调查的最新版本是哪一版？

最新版本是 DIN 51001 Beiblatt 1:2010-05 。

标准号

DIN 51001 Bbl 1:2010-05

发布时间

2010-05

标准名称

氧化性原料和材料中碳化硅含量测定 - 附录 1：样品制备推荐

发布机构

德国标准化学会 (DIN)

编制依据

由材料测试标准化委员会 (NMP) 下的 NA 062-02-61 AA 工作组“氧化性原料和材料的化学分析”制定

文件关系说明

本文件是 DIN 51001 的附录 1，提供了针对特定物质组的样品制备建议

代替/废止文件关系

替代了 DIN 51001 Bbl 1:2003-08

与国际文件关系

引用了 DIN EN ISO 21068-2 和 DIN EN ISO 12677

提出和归口信息

由材料测试标准化委员会 (NMP) 提出并归口

起草信息

由 NA 062-02-61 AA 工作组起草

版本历史

1987-08, 2003-08, 2010-05

编制原因和目的

为氧化性原料和材料的 X 射线荧光分析提供样品制备的标准化建议，特别是针对含碳化硅、铁冶金产品、粘结剂、原料、玻璃及玻璃陶瓷等物质

技术内容特殊信息

强调了含碳化硅样品必须先完全氧化才能进行熔融，否则坩埚会被破坏；指出了特定元素（如氯、硫、某些金属氧化物）在熔融过程中的特殊处理要求

分部分标准的各部分关系

作为 DIN 51001 的附录，补充了主标准中关于样品制备的具体技术细节

与法规或其他标准的关系说明

与 DIN 51001（主标准）、DIN EN ISO 21068-2（碳化硅分析）、DIN EN ISO 12677（耐火材料分析）相关联

风险分析或特殊提示

含碳化硅、碳化物、磷化物、硅化物、金属硅等物质在熔融前必须完全氧化，否则会导致坩埚损坏；某些元素（如氯、硫、某些贵金属）在熔融过程中存在挥发或合金化风险，需采取特殊措施

DIN 51001 Beiblatt 1:2010-05 发布之时，引用了标准

• DIN 51001 氧化原料和基础材料的测试 X射线荧光法（XRF）的一般工作基础
• DIN 51075 陶瓷材料的检验.碳化硅的化学分析.游离碳含量的直接测定
• DIN EN ISO 12677 通过 X 射线荧光(XRF)对耐火产品进行化学分析 熔铸珠法*， 2013-02-01 更新
• DIN EN ISO 21068-2 含碳化硅、氮化硅、氧氮化硅和赛隆的原料和耐火制品的化学分析 第2部分：挥发性组分、总碳、游离碳、碳化硅、总硅和游离硅、氟碳化合物的测定...*， 2024-11-01 更新

* 在 DIN 51001 Beiblatt 1:2010-05 发布之后有更新，请注意新发布标准的变化。

DIN 51001 Beiblatt 1:2010-05的历代版本如下：

• 2010年 DIN 51001 Beiblatt 1:2010-05 氧化原料和基本材料的测试 - X 射线荧光法 (XRF) 的一般工作基础 - 用于确定 XRF 测试样品的材料组崩解方法的一般调查
• 2010年 DIN 51001 Beiblatt 1:2010 氧化原料和基础材料的测试.X射线荧光法（XRF）的一般工作基础 用于测定XRF试样的材料组分解方法的一般概述
• 2009年 DIN 51001 Supplement 1 E:2009-09 草案 氧化原料和基本材料的测试 X射线荧光法（XRF）的一般工作基础 关于用于确定XRF测试样本的材料组的崩解方法的一般调查
• 2009年 DIN 51001 Supplement 1 E:2009 氧化原料和基础材料的测试 X 射线荧光方法 (XRF) 的一般工作基础 用于确定 XRF 测试样本的材料组崩解方法的一般调查 草案
• 2003年 DIN 51001:2003-08 氧化原料和基础材料的测试 X射线荧光法（XRF）的一般工作基础
• 2003年 DIN 51001:2003 氧化原材料和基础材料检验.X射线荧光法通用作业基础
• 1983年 DIN 51001-1:1983 氧化材料的测试 X射线荧光法 一般工作基础

本文件（DIN 51001 附录 1:2010-05）为一些重要的物质组别概述了用于制备符合 DIN 51001 要求的 X 射线荧光分析（RFA）样品的常规熔融分解方法。文件中提到的百分比（%）在表示含量时指质量百分比。

标准号

DIN 51001 Beiblatt 1:2010-05

发布

2010年

总页数

9页

发布单位

德国标准化学会

当前最新

DIN 51001 Beiblatt 1:2010-05

 

 

引用标准

DIN 51001 DIN 51075 DIN EN ISO 12677 DIN EN ISO 21068-2

 

 

本体

氧化

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