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美利体育登录入口官网:JIS K 7194:1994
用四点探针排列法测定传导塑料电阻率的测试方法

Testing method for resistivity of conductive plastics with a four-point probe array

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CDE ResMap 四点探针测试仪 四点探针

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瞬渺科技(香港)有限公司

 

CDE resmap 273 四探针面扫描电阻率电导率测试仪

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上海瞬渺光电技术有限公司

 

JIS K 7194:1994

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标准号
JIS K 7194:1994
发布
1994年
ICS
29.050
83.080.01
总页数
21页
发布单位
日本工业标准调查会
替代标准
JIS K 7194:1994 ERRATUM 1:2003
当前最新
JIS K 7194:1994 ERRATUM 1:2003
 
 
引用标准
ISO 472:1988 JIS B 7502 JIS B 7507 JIS K 6900 JIS K 7100 JIS Z 8401
 
 
本体
修正系数

本标准规定了采用四探针法测试导电塑料电阻率的方法。

术语 
导电塑料 conductive plastics
四探针阵列 four-point probe array
修正系数 correction factor
电阻率 resistivity

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千分尺

测量范围 0mm 至 25mm,符合 JIS B 7502 或精度相当
用于测量测试样品的厚度。
恒流源

根据样品电阻提供表 1 中规定的施加电流 I0,波动在 ±0.05% 以内
用于向探针 A 和 D 提供电流。
探针

电阻率不超过钨,直径 0.5mm 至 0.8mm 的金属棒,尖端球形加工,间距 5mm
用于接触测试样品进行测量。
数字电压表

至少三位显示功能,测量范围 0.1mV 至 2V,输入电阻至少 10^10 Ω
用于测量探针 B 和 C 之间的电位差。
游标卡尺

最大测量长度 300mm,最小读数 0.05mm,符合 JIS B 7507 或精度相当
用于测量测试样品的宽度和长度。

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