美利体育登录入口官网:GJB 128B-2021
半导体分立器件试验方法
Semiconductor discrete device test methods
- 标准号
- GJB 128B-2021
- 发布
- 2021年
- 总页数
- 401页
- 发布单位
- 国家军用标准-总装备部
- 当前最新
- GJB 128B-2021
- 引用标准
- GB/T 3131-2001 GJB 1209 GJB 2712 GJB 3007 GJB 360B-2009 GJB 762.1-1989 GJB 762.3-1989 GJB/Z 105
- 本体
- 半导体分立器件
- 适用范围
- 本标准规定了半导体分立器件 (以下简称器件) 的通用试验方法, 包括为确定器件耐受自然环境和军用工作环境的有害影响而进行的基本环境试验，力学 (物理) 试验和电学试验。 本标准适用于军用半导体分立器件, 包括晶体管、二极管等产品和其他相关元器件, 其他元器件也可参照使用。
美利体育登录入口官网: GJB 128B-2021 中提到的仪器美利体育官网首页网址
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