美利体育登录入口官网:VDI VDE 5575 Blatt 2-2019
X射线光学系统 测量方法
X-ray optical systems - Measurement methods
- 标准号
- VDI VDE 5575 Blatt 2-2019
- 发布
- 2019年
- 国际标准分类(ICS)
- 17.180.30 光学测量仪器
- 总页数
- 31页
- 发布单位
- 德国机械工程师协会
- 当前最新
- VDI VDE 5575 Blatt 2-2019
- 本体
- X射线光学系统 辐射源
- 适用范围
- 本文件规定了X射线光学系统测量方法的基本构建，包括辐射源、探测器以及各种具体量度如几何尺寸和光谱特性。还提供了基本的测量装置设置。
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| X射线管 微焦点、线焦点和点焦点管 | 用于产生X射线辐射的连续源。 |
| 荧光源 | 通过X射线或带电粒子激发产生的荧光源。 |
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