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美利体育登录入口官网:IEC TR 62433-4-1:2025
EMC IC建模 - 第4-1部分：使用ICIM-CI模型预测PCB中IC传导抗扰度

EMC IC modelling - Part 4-1: Use of ICIM-CI model to predict the IC conducted immunity in a PCB

美利体育登录入口官网: IEC TR 62433-4-1:2025 发布历史

IEC TR 62433-4-1:2025由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 2025-08-01，并于 2025-08-26 实施。

IEC TR 62433-4-1:2025在国际标准分类中归属于: 31.200 集成电路、微电子学。

IEC TR 62433-4-1:2025 EMC IC建模 - 第4-1部分：使用ICIM-CI模型预测PCB中IC传导抗扰度的最新版本是哪一版？

最新版本是 IEC TR 62433-4-1:2025 。

标准号

IEC TR 62433-4-1:2025

发布时间

2025-08

标准名称

电磁兼容 IC 建模 - 第 4-1 部分：使用 ICIM-CI 模型预测 PCB 中 IC 的传导抗扰度

ICS

31.200

发布机构

国际电工委员会 (IEC)

编制依据

ISO/IEC 导则 第 2 部分，以及 ISO/IEC 导则 第 1 部分和 ISO/IEC 导则 IEC 增补

文件关系说明

本文件是 IEC 62433 系列的一部分，该系列总标题为“电磁兼容 IC 建模”。

与国际文件关系

本文件为国际标准，无对应的其他国际标准替代关系。

专利声明（未识别专利）

IEC 注意到实施本文件可能涉及一项或多项专利。IEC 对任何声称的专利权的证据、有效性或适用性不持立场。截至本文件出版之日，IEC [已/未] 收到实施本文件可能需要的专利通知。然而，实施者应注意，这可能不是最新信息，最新信息可从 https://patents.iec.ch 的专利数据库中获取。IEC 不对识别任何此类专利权负责。

提出和归口信息

由 IEC 技术委员会 47：半导体器件下的分技术委员会 47A：集成电路编制。

编制原因和目的

本文件旨在概述从测量中提取 ICIM-CI 模型的良好实践，并构建 PCB 的数值模型，以便在该模型中使用 ICIM-CI 模型预测 IC 在其应用 PCB 中的射频抗扰度。

技术内容特殊信息

本文件讨论了在 ICIM-CI 模型提取和使用过程中，为获得适当结果应考虑的因素。

分部分标准的各部分关系

本文件是 IEC 62433 系列的第 4-1 部分。

与法规或其他标准的关系说明

本文件引用了 IEC 62132-4 作为直接射频功率注入 (DPI) 测试的参考标准。

IEC TR 62433-4-1:2025 发布之时，引用了标准

• IEC 62433 EMC IC建模.第6部分:脉冲抗扰性能模拟集成电路模型传导脉冲抗扰度建模（ICIM-CPI）

IEC TR 62433-4-1:2025的历代版本如下：

• 2025年 IEC TR 62433-4-1:2025 EMC IC建模 - 第4-1部分：使用ICIM-CI模型预测PCB中IC传导抗扰度

 

IEC TR 62433-4-1:2025 提供了从测量中提取 ICIM-CI 模型以及构建用于放置 ICIM-CI 模型的印制电路板（PCB）数值模型的良好实践概述。该文件还讨论了在提取 ICIM-CI 模型以及在 PCB 层面使用实际模型时需考虑的因素，以确保获得准确的结果。

标准号

IEC TR 62433-4-1:2025

发布

2025年

ICS

31.200

总页数

44页

发布单位

国际电工委员会

当前最新

IEC TR 62433-4-1:2025

 

 

引用标准

IEC 62433

 

 

本体

集成电路

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