| 切断-back测试装置 用于测量UV吸收,光源波长220±5 nm | 用于测量光纤接近吸收边缘处的紫外吸收特性,光纤长度4米切断至1米进行测试。 |
| 显微镜探针 用于材料分析 | 用于分析包层材料的化学成分,作为对应的X射线分析的替代方法。 |
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