美利体育登录入口官网:GB/T 42969-2023
元器件位移损伤试验方法
Component displacement damage test method
GBT42969-2023, GB42969-2023
- 标准号
- GB/T 42969-2023
- 别名
- GBT42969-2023, GB42969-2023
- 发布
- 2023年
- 国际标准分类(ICS)
- 31.200 集成电路、微电子学
- 总页数
- 12页
- 发布单位
- 国家市场监督管理总局
- 当前最新
- GB/T 42969-2023
- 本体
- 原位测试
-
元器件位移损伤试验方法标准号: GB/T 42969-2023
适用范围:
本文件描述了元器件位移损伤的试验方法，适用于光电集成电路和分立器件（如电荷耦合器件（CCD）、光电耦合器、图像敏感器（APS）、光敏管等）用质子、中子进行位移损伤辐照试验。其他元器件的位移损伤辐照试验可参照此文件执行。
本方法包括试验条件、辐射源选择及调整、试验样品和方案制定、试验程序、数据判读以及试验报告等内容，确保了试验结果的有效性和可靠性。
| 术语 | 描述 |
|---|---|
| 位移损伤 displacement damage | 粒子在材料中通过弹性或非弹性碰撞导致材料品格结构损伤 |
| 位移损伤剂量 displacement damage dose:DDD | 单位质量材料吸收的产生位移损伤的能量。注：位移损伤剂量常用某种能量粒子的位移损伤等效注量来表征，如10MeV质子、1MeV中子等效注量来描述器件的位移损伤 |
| 非电离能损 non-ionizing energy loss:NIEL | 入射粒子通过非电离方式在单位距离内传递给晶格的能量。注：非电离能损的常用单位为兆电子伏平方厘米每克(MeV·cm?/g) |
| 原位测试 in-situ testing | 不移动器件，在辐照位置对器件进行电参数或功能性测试 |
| 移位测试 remote test | 将器件从辐照位置移开后进行电参数或功能性测试 |
美利体育登录入口官网: GB/T 42969-2023 中提到的仪器美利体育官网首页网址
| 位置灵敏探测器 | 用于测量质子的注量 |
| 次级粒子探测器 | 用于测量质子的注量 |
| 电离室 | 用于测量质子的注量 |
| 闪烁探测器 | 用于测量质子的注量 |
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