美利体育登录入口官网:IEC TR 63357:2022
半导体器件.汽车故障试验方法的标准化路线图
Semiconductor devices - Standardization roadmap of fault test method for automotive vehicles
- 标准号
- IEC TR 63357:2022
- 发布
- 2022年
- 国际标准分类(ICS)
- 31.080.99 其他半导体分立器件
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC TR 63357:2022
- 引用标准
- IEC 60050-192
- 适用范围
- 本技术报告描述了用于汽车集成电路故障测试方法的标准化路线图。由于汽车暴露在非常低或高温、振动、高频信号等恶劣环境中，因此需要测试可能由恶劣环境引起的故障。有几种故障测试方法和相关问题需要标准化。 用于汽车的半导体器件暴露在非常高或非常低温、振动、高频信号等恶劣环境中。因此，它们需要测试可能由恶劣环境引起的故障。根据本故障测试方法的评估结果将提供半导体器件的鲁棒性。