| X 射线光谱仪 未提及 | 用于测量镀层厚度的方法(EN ISO 3497)。 |
| 库仑计 未提及 | 用于通过阳极溶解测量镀层厚度的方法(EN ISO 2177)。 |
| 扫描电子显微镜 未提及 | 用于测量镀层厚度的方法之一(EN ISO 9220)。 |
| 磁性测厚仪 未提及 | 用于测量非磁性镀层在磁性基材上的厚度的方法(EN ISO 2178)。 |
| 金相显微镜 未提及 | 用于测量镀层厚度的方法(EN ISO 1463)。 |
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