美利体育登录入口官网:BS ISO 18117:2009(2015)
表面化学分析——分析前样品的处理
Surface chemical analysis — Handling of specimens prior to analysis
- 标准号
- BS ISO 18117:2009(2015)
- 发布
- 2015年
- 总页数
- 20页
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
- BS ISO 18117:2009(2015)
- 引用标准
- ISO 18115
- 本体
- 样品处理 样品容器 表面化学分析
- 适用范围
- 本国际标准提供了提交用于表面化学分析的样品处理和容器的指南。旨在帮助表面分析服务的用户理解表面化学分析技术（特别是俄歇电子能谱（AES）、二次离子质谱（SIMS）和X射线光电子能谱（XPS或ESCA））的特殊样品处理要求。所提出的协议也可能适用于其他对表面成分敏感的分析技术，如TXRF。在特定情况下，可能需要采取进一步的预防措施。
| 术语 | 描述 |
|---|---|
| 俄歇电子能谱 Auger electron spectroscopy (AES) | 一种表面分析技术，利用俄歇电子的特性来分析材料表面的化学成分 |
| 二次离子质谱 Secondary-ion mass spectrometry (SIMS) | 通过溅射产生二次离子并进行质谱分析的技术 |
| X射线光电子能谱 X-ray photoelectron spectroscopy (XPS or ESCA) | 通过X射线激发样品表面电子并测量其动能来分析表面化学成分的技术 |
| 全反射X射线荧光光谱 Total reflection X-ray fluorescence spectroscopy (TXRF) | 一种表面敏感的分析技术，用于美利体育登录入口官网表面元素组成 |
| 聚四氟乙烯 Polytetrafluoroethylene (PTFE) | 一种常用于样品处理的化学惰性材料 |
美利体育登录入口官网: BS ISO 18117:2009(2015) 中提到的仪器美利体育官网首页网址
| X射线光电子能谱仪 XPS/ESCA | 利用X射线激发光电子的表面美利体育登录入口官网器 |
| 二次离子质谱仪 SIMS | 通过离子束溅射和质谱分析表面成分的仪器 |
| 俄歇电子能谱仪 AES | 用于表面化学成分分析的仪器 |
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