美利体育登录入口官网:IEC 62132-8:2026
集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分：辐射抗扰度测量 集成电路带状线方法
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 8: Measurement of radiated immunity - IC stripline method
美利体育登录入口官网: IEC 62132-8:2026 发布历史
IEC 62132-8:2026由国际电工委员会 IX-IEC 发布于 2026-02-12。
IEC 62132-8:2026在国际标准分类中归属于: 31.200 集成电路、微电子学。
IEC 62132-8:2026 集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分：辐射抗扰度测量 集成电路带状线方法的最新版本是哪一版？
最新版本是 IEC 62132-8:2026 。
- 标准号
- IEC 62132-8:2026
- 发布时间
- 2026-02
- 标准名称
- 集成电路 - 电磁抗扰度测量 - 第 8 部分：辐射抗扰度测量 - IC 带状线法
- ICS
- 31.200
- 发布机构
- 国际电工委员会 (IEC)
- 编制依据
- ISO/IEC 导则 第 2 部分，以及 ISO/IEC 导则 第 1 部分和 ISO/IEC 导则 IEC 补充文件
- 文件关系说明
- 本部分应与 IEC 62132-1 结合阅读
- 代替/废止文件关系
- 取消并取代 2012 年出版的第一版
- 专利声明（未识别专利）
- 截至本文件出版之日，IEC 尚未收到实施本文件所需的专利通知。实施者应注意到，这可能不是最新信息，最新信息可从 https://patents.iec.ch 获取的专利数据库中获取。IEC 不对识别任何此类专利权的责任。
- 提出和归口信息
- 由 IEC 技术委员会 47（半导体器件）下属的 47A 分委员会（集成电路）编制
- 版本历史
- 第二版，取代 2012 年第一版。本次修订包括以下重大技术变更：a) 从范围中删除了 150 kHz 至 3 GHz 的频率范围；b) 只要满足规定的要求，将可用上限频率扩展至 6 GHz 或更高。
- 编制原因和目的
- 提供一种使用 IC 带状线测量集成电路 (IC) 对射频 (RF) 辐射电磁干扰抗扰度的方法，以便对 DUT 的 RF 抗扰度进行定量测量，用于比较或其他目的。
- 技术内容特殊信息
- 有效频率范围为 150 kHz 至 6 GHz，结合电压驻波比 (VSWR) 特性：f ≤ 3 GHz 时 ≤ 1.25，f > 3 GHz 时 ≤ 1.4。如果 IC 带状线在测量频率范围内未表现出显著的高阶模式，则上限频率可进一步扩展。
- 分部分标准的各部分关系
- 本部分是 IEC 62132 系列的一部分，该系列总标题为“集成电路 - 电磁抗扰度测量”。
- 风险分析或特殊提示
- 警告！请确保您是从授权分销商处获得本出版物。
IEC 62132-8:2026 发布之时，引用了标准
- IEC 62132-1 集成电路 - 电磁抗扰度测量 - 第1部分:一般条件和定义
IEC 62132-8:2026的历代版本如下：
- 0000年 IEC 62132-8:2026 RLV
- 0000年 IEC 62132-8:2025 PRV
- 2012年 IEC 62132-8:2012 集成电路.电磁抗扰度的测量.第8部分:辐射抗扰度测量.集成电路(IC)电介质条状线法
IEC 62132-8 规定了使用 IC 带状线测量集成电路（IC）对射频（RF）辐射电磁干扰免疫性的方法。
| 术语 | 描述 |
|---|---|
| 横电磁模式 Transverse electromagnetic mode (TEM) | 传播方向上的电场和磁场分量远小于任何横截面上的主要场分量的波导模式。 |
| TEM 波导 TEM waveguide | 开放式或闭合式传输线系统，其中波以横电磁模式传播，以产生用于测试的特定场。 |
| IC 带状线 IC stripline | 一种由有源导体放置在规定的间距上，位于扩大的地平面之上，两端连接端口结构，并带有可选屏蔽外壳的 TEM 波导。 |
| 特征阻抗 Characteristic impedance | 对于任何恒定相位波前，有源导体与对应地平面之间的电压与任一导体上的电流之比的幅值。 |
| 主要场分量 Primary field component | 与预期测试极化方向对齐的电场分量。 |
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- 标准号
- IEC 62132-8:2026
- 发布
- 2026年
- ICS
-
31.200
- 总页数
- 26页
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC 62132-8:2026
- 引用标准
- IEC 60050-131 IEC 60050-161 IEC 61000-4-20 IEC 62132-1
- 本体
- 横电磁模式 被测器件
美利体育登录入口官网: IEC 62132-8:2026 中提到的仪器美利体育官网首页网址
| 50 Ω 终端 VSWR 在 f≤3 GHz 时≤1.1，在 f>3 GHz 时≤1.2 | 用于终止 IC 带状线未连接射频干扰发生器的 50 Ω 端口，以确保阻抗匹配。 |
| IC 带状线 开路或闭路版本，配有与 EMC 测试板配合的孔径 | 测试装置的核心部件，用于在有源导体和地平面之间产生特定的电磁场以评估 IC 的抗扰度。 |
| 射频干扰发生器 具有足够功率处理能力，可包含射频信号发生器（带调制功能）、射频功率放大器和可选衰减器 | 用于产生并注入射频干扰信号以暴露被测器件的电磁场。 |