| 术语 | 描述 |
|---|---|
| 折射率分布 refractive index profile | 沿光纤直径的折射率分布。 |
| 参考测试方法 reference Test Method (RTM) | 严格按照该特性定义测量指定类别的光纤或光缆特性的测试方法,其结果准确、可复现且与实用相关。 |
| 替代测试方法 alternative Test Method (ATM) | 以与该特性定义一致的方式测量指定类别光纤或光缆特性的测试方法,其结果可复现,并能与参考测试方法及实际应用相关联。 |
| 包层模式剥离器 cladding mode stripper | 一种促使包层模转换为辐射模的装置。 |
| 模式滤波器 mode filter | 设计用于接受或拒绝特定模式或模式的装置。 |
| 一次涂覆层 primary coating | 在拉丝过程中或拉丝后施加在光纤包层上的一层或多层保护涂层材料,用于保持包层表面的完整性并提供所需的最小保护(例如250 ?m保护涂层)。 |
| 二次涂覆层 secondary coating | 施加在一根或多根一次涂覆光纤上的一层或多层涂层材料,以提供额外的所需保护或将光纤排列成特定结构(例如900 ?m“缓冲”涂层、“紧套”或带状涂层)。 |
| 证明测试水平 prooftest level | 指定长度的光纤在指定短时间内所承受的拉伸应力或应变的指定值。这通常沿光纤长度顺序进行。 |
| 应力腐蚀参数 stress corrosion parameter | 应力腐蚀(敏感性)参数n是一个无量纲系数,经验上描述了裂纹生长与施加应力之间的关系。它取决于环境温度、湿度和其他环境条件。 |
| 模场 mode field | LP01模的单模场分布,在光纤中产生空间强度分布。 |
| 模场直径 mode field diameter | 模场直径(MFD)2w代表光纤横截面中模的电磁场强度横向范围的度量,通过远场强度分布F2(θ)定义。 |
| 模场中心 mode field centre | 光纤中空间强度分布的质心位置。 |
| 模场同心度误差 mode field concentricity error | 模场中心与包层中心之间的距离。 |
| 包层 cladding | 光纤横截面中折射率恒定的最外层区域。 |
| 包层中心 cladding centre | 对于光纤横截面,它是最佳拟合包层外限的圆的中心。 |
| 包层直径 cladding diameter | 定义包层中心的圆的直径。 |
| 包层直径偏差 cladding diameter deviation | 包层直径的实际值与标称值之间的差异。 |
| 包层公差场 cladding tolerance field | 对于光纤横截面,它是包层外限的外切圆与内切于包层外限的最大同心圆之间的区域。两个圆的中心应与包层中心相同。 |
| 包层非圆度 cladding non-circularity | 由包层公差场定义的两个圆的直径之差除以标称包层直径。 |
| 色散 chromatic dispersion | 由于组成光源光谱的不同波长的不同群速度,导致光脉冲在光纤中展宽的现象。 |
| 色散系数 chromatic dispersion coefficient | 单位波长变化引起的单位光纤长度的光脉冲延迟变化,通常以ps/(nm·km)表示。 |
| 零色散斜率 zero-dispersion slope | 色散系数与波长曲线在零色散波长处的斜率。 |
| 零色散波长 zero-dispersion wavelength | 色散消失的波长。 |
| 截止波长 cut-off wavelength | 定义为高于该波长时,包括激发的高阶模在内的总功率与基模功率之比下降至小于0.1 dB的波长。 |
| 衰减 attenuation | 光纤上两个相距L的横截面1和2之间在波长λ处的衰减A(λ),定义为10 log(P1/P2) dB。 |
| 偏振模色散 Polarization Mode Dispersion (PMD) | 两个正交偏振模之间的差分群时延(DGD),导致数字系统中的脉冲展宽和模拟系统中的失真。 |
| 主偏振态 principal States of Polarization (PSP) | 当在截止波长以上的光纤中工作时,输出PSP是两个正交的输出偏振态,当光频率略有变化时,输出偏振不发生变化。 |
| 差分群时延 differential group delay | 主偏振态(PSP)的群时延之间的时间差。 |
| PMD时延 PMD delay | PMD时延的三种定义(二阶矩、平均差分群时延、均方根差分群时延)在实际情况下被认为在测量复现性范围内是等效的。 |
| PMD系数 PMD coefficient | 弱模式耦合(短光纤)和强模式耦合(长光纤)两种情况下的PMD系数,通常以ps/km为单位。 |
| 侧视测量系统 包含准直透镜、放大光学系统、探测器、光纤旋转控制器及计算机 | 通过测量光纤内部折射光的强度分布,旋转光纤以确定模场同心度误差、包层直径和包层非圆度的装置。 |
| 可变孔径装置 包含至少12个孔径的装置,数值孔径范围0.02至0.25 | 用于通过测量每个孔径的透射功率来确定模场直径的替代测试方法装置。 |
| 后向散射测试装置 OTDR(光时域反射仪) | 用于通过测量光纤后向散射光功率来确定衰减的替代测试方法装置。 |
| 干涉测试装置 干涉仪 | 用于通过干涉图样确定PMD时延或色散的测试装置。 |
| 折射近场测试装置 包含X-Y电子测微计、流体池、四分之一波片、探测器及计算机 | 通过扫描聚焦光斑穿过光纤端面,测量折射光分布以确定光纤几何参数和折射率分布的装置。 |
| 相移测试装置 调制光源、相位美利体育登录入口官网器 | 用于通过测量光脉冲相位随波长的变化来确定色散的参考测试方法装置。 |
| 近场扫描装置 显微镜物镜配合扫描光电探测器 | 用于放大并聚焦光纤近场图像到扫描探测器平面,以测量模场直径的装置。 |
| 远场扫描装置 扫描光电探测器带针孔孔径或扫描 pig-tailed 光电探测器 | 用于测量光纤远场强度分布F2(θ)以确定模场直径的装置,探测器距离光纤端部至少10mm,动态范围至少50dB。 |
Copyright ?2007-2026 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号
页面更新时间: 2026-09-17 20:00