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美利体育登录入口官网:SJ/T 11043-1996
电子玻璃高频介质损耗和介电常数的测试方法

Test method for high frequency dielectric losses and permittivity of electronic glass

SJT11043-1996, SJ11043-1996


标准号
SJ/T 11043-1996
别名
SJT11043-1996, SJ11043-1996
发布
1996年
国际标准分类(ICS)
31.030 电子技术专用材料   
总页数
2页
发布单位
行业标准-电子
当前最新
SJ/T 11043-1996
 
 
被代替标准
GB 9622.9-1988
 
 
本体
电子玻璃
适用范围
本标准适用于测试电子玻璃的高频介质损耗和介电常数。
介质损耗角正切值
Tangent of Dielectric Loss Angle
表征电介质在交变电场中能量损耗程度的物理量,通过Q表测量计算得出。
电子玻璃
Electronic Glass
一种用于电子工业的玻璃材料,需测试其高频介质损耗和介电常数。
高频Q表
High Frequency Q Meter
用于在高频波段测量谐振回路品质因数和电容的仪器。

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游标卡尺

未提及
用于准确测量试样直径和厚度。
高温炉

温度范围:460~500°C
用于将涂有低温银层的试样在460~500°C下保温10分钟,以形成导电层。
高频Q表

振荡频率范围:50kHz~50MHz;电容调节范围:40~400pF;Q值测量范围:20~300
用于根据谐振原理,对不接入和接入试样的调谐回路进行两次测量,求得品质因数和回路电容。

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