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【内容简介】

上世纪九十年代以后，基于SPM的表征材料表面电学性质的技术得到了极大的发展。其应用领域包括纳米材料，纳米器件，生命科学，半导体器件，数据存储等领域。近年来，Bruker发明了一种新的成像技术峰值力轻敲(即PeakForce　Tapping)，随着基于峰值力技术研发出一系列新的成像模式，使得纳米材料电学性能表征更定量、更准确。

此报告重点介绍Lift模式以及在此模式下工作的电学测量方法静电力显微镜(EFM)和表面电势测量(KPFM)，并展示如何通过与新的峰值力轻敲模式相结合，实现同时的电学与力学测量，以及达到更高的分辨率与准确度。该讲座与11月25日的电学模块讲座概况了Bruker最重要的几种电学测量技术。

【主讲人简介】

孙昊博士，1982年10月出生于山东省济南市。2000年至2004年就读于山东大学化学与化工学院应用化学系。2005年进入北京大学化学与分子工程学院无机化学系硕博连读。主要研究方向是基于扫描探针显微技术的无机纳米材料的制备和表征。2010年获得理学博士学位。毕业后加入Bruker纳米表面仪器部担任客户服务中心及售后服务主管。

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