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美利体育登录入口官网:ASTM B767-88(2016)
用重量分析法和其它化学分析法测定电沉积涂层及相关涂层单位面积的质量

Standard Guide for Determining Mass Per Unit Area of Electrodeposited and Related Coatings by Gravimetric and Other Chemical Analysis Procedures


标准号
ASTM B767-88(2016)   中文首页
发布
1988年
总页数
6页
替代标准
ASTM B767-88(2021)
当前最新
ASTM B767-88(2021)
 
 
引用标准
ASTM A309 ASTM A428/A428M ASTM A90/A90M ASTM B137 ASTM B449 ISO 2081 ISO 2082 ISO 2093 ISO 2106 ISO 3892 ISO 4522-1 ISO 4524-1

本文件规定了通过重量法及其他化学分析程序,测定电沉积、化学镀、机械沉积、真空沉积、阳极氧化及化学转化涂层单位面积质量的通用方法。

本文件适用于测定指定测量面积上的涂层平均单位面积质量。所引用的剥离方法已在相关规范、公开文献中描述,或已被至少一个实验室常规使用。

所述程序适用于多种涂层与基体组合,但不适用于无法通过化学或物理手段将涂层与基体分离的情况。原则上,该方法可用于测量极薄涂层或小面积涂层,但受限于所需精度,不适用于极薄涂层覆盖小面积的情形。

本文件所述数值均采用国际单位制(SI),其他计量单位未包含在内。本文件未涵盖所有与使用相关的安全问题,用户需自行建立适当的安全与健康实践并确定法规限制的适用性。

术语描述
涂层质量每单位面积
Mass per unit area of coating
指在特定区域内的涂层重量,通常用于评估涂层的密度和均匀性。
溶解法
Dissolution Method
通过化学反应将基材与涂层分离,以单独测量涂层质量的方法。

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天平

精确至0.1mg
用于精确称量样品和涂层的质量。

电子天平 XPR205DUE/AC

梅特勒托利多 XPR205DUE/AC

赛多利斯Cubis 系列电子天平

赛多利斯 赛多利斯Cubis 系列

梅特勒 新经典系列ME天平

梅特勒托利多 ME/54/104/204

赛多利斯 Quintix系列电子天平

赛多利斯 Quintix系列

量具

如游标卡尺、千分尺等
用于测量试样的尺寸和形状,确保面积测量的准确性。

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