本文件规定了利用铬或钼靶X射线衍射技术,通过积分强度(峰面积扣除背景)测定钢中残留奥氏体相含量的方法。
该方法适用于铁素体和奥氏体相具有近随机晶体学取向的碳钢及合金钢。其有效测定范围为体积分数1%及以上的残留奥氏体含量。
在应用过程中,应尽可能消除碳化物等其他结晶相产生的X射线衍射峰干扰,以确保铁素体和奥氏体峰强度的准确性。对于总合金含量超过15%的钢种,由于合金元素会引起峰强度变化,本方法的应用需谨慎。必要时,用户可计算理论修正因子,以补偿因化学成分变化导致的奥氏体和铁素体晶胞体积改变。
本文件未涵盖所有与使用相关的安全问题。使用者有责任建立适当的安全与健康操作规范,并在使用前确定相关法规限制的适用性。
| X射线衍射仪 标准商业X射线衍射仪,配备脉冲高度选择器电路 | 用于测量残留奥氏体,也可使用X射线相机配合测光仪读数。 |
| 分析天平 未指定 | 用于通过切割图谱并称重来确定积分强度的替代方法。 |
| 测光仪 用于读取胶片 | 与X射线相机配合使用,用于测量X射线衍射胶片上的强度。 |
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