反射/透射光谱共聚焦扫描成像系统
标准反射/透射光谱测试系统，采用“所见即所得”的测量方式，即反射与透射测量方式均能在直接观测样品成像时看到测量光斑，成像与测量光路通过电机切换。标准系统可满足紫外/可见/近红外波段的测试需求，对于特殊波段可进行优化设计及光路定制。
系统原理示意图
*此图为简化原理示意，不代表实际光路
典型数据图
基本功能
白光反射谱及Mapping成像；
白光透射谱及Mapping成像；
电动变偏振采谱；（可。
适配低温台、电学样品台等；（可。
共聚焦方式和科勒照明方式；（可。
透射光谱无色散设计；（可。
入射及收集光路均可配置双口电动切换。（可。
应用场景
光学材料的能级及振动强弱信息探测
半导体材料的带隙探测；
无机光学材料的吸收特性研究；
贵金属纳米材料的表面等离激元共振特性研究；
光学材料的基础光谱表征。
反射/透射光谱共聚焦扫描成像系统典型参数配置
测试光源： 光纤耦合卤素灯；自由空间卤素灯（可。
支持光谱范围： 250 nm - 850 nm；400 nm - 1100 nm；900 nm - 1700 nm
空间分辨率： ＜ 1 μm
电动位移行程： 50 mm × 50 mm × 40 mm
扫描精度： ＜ 1 μm，步进最小 0.04 μm
偏振控制： 电动
测量方式： 反射和透射
光路切换方式： 电动，软件控制
物镜组： 5X，10X，20X，50X，100X可见光物镜；反射式物镜，红外长焦物镜等可选
照明光源： 高显色LED面光源
光谱采集： 光纤光谱仪；光栅光谱仪（可。
软件功能：移动视。谢晃锞，对焦，框选扫描区域均可用鼠标直接在图像显示窗口操作；电动功率调整；自动光路模式切换；自动化Mapping
自动化偏振Mapping；实时处理与显示数据。