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200kV的JEM-2100通用型电子显微镜，由PC一体化管理各种功能，性价比高，能支持生物、生物到材料等所有领域的研究和开发。

• 配有高性价比的LaB6电子枪。

• 实现了0.19 nm的高分辨率 （使用URP极靴 ）。

• 实现了STEM（扫描透射图像观察装置）、EDS（能谱仪）与主机控制PC的一体化控制。

• EDS 的固体角达到0.28 sr （使用HRP极靴和50 mm2美利体育登录入口官网器），可以进行高灵敏度、高分辨率的分析。

• 采用新设计的测角台，可以进行长时间、稳定的观察和分析。

　　1.五种极靴UHR、HR、HT、HC、CRYO

　　2.稳定的操作系统

　　3.zei小束斑尺寸：0.5nm

　　4.良好的扩展性

The JEM-2100 is a multipurpose, 200 kV analytical electron microscope. Variety of versions is provided to adapt user’s purposes. The JEM-2100, which incorporates an integrated PC system for various functions with excellent cost performance, supports research and development in wide scientific fields, for biology to materials researches.

Excellent LaB6 electron gun promises excellent performance with a reasonable cost.

Ultrahigh TEM resolution as high as 0.19 nm (in UHR configuration)　enables us to perform an observation at atomic resolution.

STEM (Scanning Transmission Electron Microscope: option) function integrated in PC control system enables us to see a scanning image of a sample at nanometer resolution.

EDS (Energy Dispersive X-ray Spectrometer) with a 0.28sr of solid angle (in HR configuration with a 50mm2 detector) performs highly sensitive analysis at nanometer resolution.

Highly stable specimen stage enables us to perform a long term observation and analysis.

*1 : 订购时请指定物镜种类。
*2 : 需要高分辨率电子束衍射装置(选配件)。
*3 : 使用双倾样品杆时
*4 : 使用高倾斜样品台时
*5 : 能谱仪为选配件

　　1.点分辨率：0.19nm

　　2.线分辨率：0.14nm

　　3.加速电压：80, 100, 120, 160, 200kV

　　4.倾斜角：25

　　5.EDS:13

主要技术指标：

1. 透射电镜主机主要技术指标：
   电子枪： LaB₆（六硼化镧）
   点分辨率：0.23 nm
   线分辨率：0.14 nm
   加速电压： 200kV
   束斑尺寸：1.0~25 nm
   放大倍数（高倍）：2000~1,500,000
   放大倍数（低倍）：50~6,000
   倾斜角：±35°

2. 能谱仪技术指标：
   能谱仪能量分辨率（MnK）：优于136eV
   分析元素：⁵B~⁹²U
   

主要功能及应用

• 功能：透射像（明场、暗场和高分辨像）观察，选区电子衍射结构分析和纳米区域的成份分析。

• 主要应用于固体材料和纳米材料的内部微观结构观察与分析。