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闪烁体

上一篇中我们介绍了闪烁体在X射线成像中的应用。在对闪烁体材料进行X射线成像时，余辉是非常重要的一个指标。?闪烁体余辉是指闪烁体在X射线等激发源关闭后仍能持续发光的现象?，其特性直接影响成像质量和美利体育官网首页网址性能。在医疗成像领域，例如CT成像需要高时间分辨率，低余辉可减少伪影的干扰。在安检与工业美利体育登录入口官网领域，低余辉可以提升快速扫描系统的图像清晰度，避免拖尾，提高美利体育登录入口官网的可信度。   

图1. CT成像及CT工业美利体育登录入口官网

针对闪烁体的余辉测试，国标《GB/T 13181-2023闪烁体性能测量方法》中规定了相关方法。

余辉

闪烁体余辉（afterglow of a scintillator）指的是闪烁体在致电离辐射激发停止后一段时间内持续的发光现象。通常以闪烁体在辐射关断后某一时间点的发光值与同一辐射激发下的发光值之比表征该时间点的余辉值。余辉测试的测试方法如图2所示。

图2. 国标《GB/T 13181-2023闪烁体性能测量方法》中余辉测试方法

参照如上方法测试得到X射线关断前后的数据，可以采用以下公式来计算闪烁体的余辉值。

（公式1）

待测闪烁体在X射线关断后t时间点的余辉值按以上公式计算：